Imagen de ISO 14237:2000

ISO 14237:2000

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
Autor: ISO
Código ICS: 71.040.40
No Vigente
$217.770
Especificaciones de productos
Fecha de Publicación 03/02/2000
Título Secundario Analyse chimique des surfaces -- Méthode par spectrométrie de masse des ions secondaires -- Dosage des atomes de bore dans le silicium à l'aide de matériaux dopés uniformément
Páginas Técnicas 22
Idioma Inglés