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ISO 14606:2000
ISO 14606:2000
Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Autor:
ISO
Código ICS:
71.040.40
Formato
Visualización con Impresión
Visualización
Estado
No Vigente
$161.840
Valor en pesos chilenos, incluye IVA.
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Especificaciones de productos
Fecha de Publicación
05/10/2000
Título Secundario
Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence
Páginas Técnicas
15
Idioma
Inglés