ISO 14606:2000

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

Autor: ISO

Código ICS: 71.040.40

$143.990

Valores en pesos chilenos, incluyen IVA.

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Especificaciones de la Norma

Fecha de Publicación	05/10/2000
Título Secundario	Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence
Páginas Técnicas	15
Idioma	Inglés