ISO 14606:2000

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials
Autor: ISO
Código ICS: 71.040.40
No Vigente
$161.840
Especificaciones de productos
Fecha de Publicación 05/10/2000
Título Secundario Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence
Páginas Técnicas 15
Idioma Inglés