ISO 14701:2011

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness

Autor: ISO

Código ICS: 71.040.40

$143.990

Valores en pesos chilenos, incluyen IVA.

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Especificaciones de la Norma

Fecha de Publicación	02/08/2011
Título Secundario	Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons par rayons X -- Mesurage de l'épaisseur d'oxyde de silicium
Páginas Técnicas	15
Idioma	Inglés