ISO 14701:2011

Name: ISO 14701:2011
Price: 161840.00 CLP
Availability: InStock

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness

Autor: ISO

Código ICS: 71.040.40

$161.840

Valor en pesos chilenos, incluye IVA.

Especificaciones de productos

Fecha de Publicación	02/08/2011
Título Secundario	Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons par rayons X -- Mesurage de l'épaisseur d'oxyde de silicium
Páginas Técnicas	15
Idioma	Inglés