ISO 16413:2013

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry -- Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

Autor: ISO

Código ICS: 35.240.70

Formato
Estado: No Vigente

$226.100

Valores en pesos chilenos, incluyen IVA.

Cantidad:

Especificaciones de la Norma

Fecha de Publicación	12/02/2013
Título Secundario	Évaluation de l'épaisseur, de la densité et de la largeur de l'interface des films fins par réflectrométrie de rayons X -- Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport
Páginas Técnicas	30
Idioma	Inglés