Imagen de ISO 16531:2013

ISO 16531:2013

Surface chemical analysis -- Depth profiling -- Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
Autor: ISO
Código ICS: 71.040.40
No Vigente
$161.840
Especificaciones de productos
Fecha de Publicación 16/05/2013
Título Secundario Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur -- Méthodes d'alignement du faisceau d'ions et la mesure associée de densité de courant ou de courant pour le profilage d'épaisseur en AES et XPS
Páginas Técnicas 18
Idioma Inglés