ISO 17297:2025

Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Autor: ISO
Códigos ICS: 01.040.71 ; 71.040.50
Vigente
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Alcance

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

Especificaciones de la Norma
Fecha de Publicación 26/05/2025
Título Secundario Analyse par microfaisceaux — Application de faisceaux d'ions focalisés pour la préparation d'éprouvettes de MET — Vocabulaire
Páginas Técnicas 14
Idioma Inglés