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ISO 18114:2003
ISO 18114:2003
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
Autor:
ISO
Código ICS:
71.040.40
Formato
Visualización con Impresión
Visualización
Estado
No Vigente
$63.070
Valores en pesos chilenos, incluyen IVA.
Cantidad:
Especificaciones de la Norma
Fecha de Publicación
14/04/2003
Título Secundario
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Détermination des facteurs de sensibilité relative à l'aide de matériaux de référence à ions implantés
Páginas Técnicas
4
Idioma
Inglés