ISO 20341:2003

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

Autor: ISO

Código ICS: 71.040.40

Formato
Estado: Vigente

$63.070

Valores en pesos chilenos, incluyen IVA.

Cantidad:

Especificaciones de la Norma

Fecha de Publicación	24/07/2003
Título Secundario	Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Méthode d'estimation des paramètres de résolution en profondeur à l'aide de matériaux de référence multicouches minces
Páginas Técnicas	5
Idioma	Inglés