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ISO 23830:2008
ISO 23830:2008
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
Autor:
ISO
Código ICS:
71.040.40
Formato
Visualización con Impresión
Visualización
Estado
Vigente
$94.010
Valores en pesos chilenos, incluyen IVA.
Cantidad:
Especificaciones de la Norma
Fecha de Publicación
05/11/2008
Título Secundario
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Répétabilité et constance de l'échelle des intensités relatives en spectrométrie statique de masse des ions secondaires
Páginas Técnicas
12
Idioma
Inglés