ISO 25498:2010

Microbeam analysis -- Analytical electron microscopy -- Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
Autor: ISO
Código ICS: 71.040.50
No Vigente
$226.100
Especificaciones de la Norma
Fecha de Publicación 17/05/2010
Título Secundario Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique analytique -- Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission
Páginas Técnicas 28
Idioma Inglés