Alcance
Esta norma especifica procedimientos para las mediciones in situ de las características de los arreglos fotovoltaicos (FV) de placa plana, de las condiciones meteorológicas presentes, y el uso de éstas para su conversión a Condiciones de Ensayo Normalizado (STC) o a otras condiciones elegidas.Las mediciones de las curvas de corriente-voltaje (I-V) de los arreglos FV en condiciones reales in situ y su conversión a Condiciones de Ensayo de Referencia (RTC)2 pueden proporcionar:— datos de potencia nominal o de ensayo de capacidad;— verificación del desempeño de la potencia instalada del arreglo con respecto a las especificaciones de diseño;— detección de posibles diferencias entre las características de los módulos in situ y las mediciones en laboratorio o en fábrica;— detección de una posible disminución del desempeño de módulos y arreglos a partir de los datos iniciales tomados in situ;— detección de posibles fallos en módulos o arreglos o detección de un desempeño bajo.Para un módulo en particular, las medidas in situ convertidas a STC se pueden comparar directamente con resultados obtenidos previamente en laboratorio o en fábrica para ese módulo. Las correcciones para las diferencias en la respuesta espectral o espacial de los dispositivos de referencia se pueden necesitar evaluar cómo se especifica en IEC 60904.Las mediciones in situ en arreglos están afectadas por las pérdidas en diodo, cable y por dispersión de parámetros, por la suciedad y el sombreado, por la degradación debido al envejecimiento, y por otros efectos no controlados. Por lo tanto, no se espera que sean iguales al producto del número de módulos por los datos respectivos de un módulo.Si un arreglo FV está formado con subarreglos de diferente inclinación, orientación, tecnología o configuración eléctrica, el procedimiento que se especifica en esta norma se aplica a cada subarreglo FV único de interés.