NCh2237:1999 ISO 2859/1

Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Autor: INN
Código ICS: 03.120.30
No Vigente
$41.000

Alcance

Esta norma especifica los planes y procedimientos de muestreo para la inspección por atributos de unidades discretas. Está indexada en términos del nivel de calidad aceptable (AQL).Su propósito es inducir a un proveedor, a través de la presión económica y psicológica de lotes no aceptados, a mantener un promedio del proceso por lo menos tan bueno como el AQL especificado, mientras que al mismo tiempo limita el riesgo del cliente de aceptar el lote ocasional pobre.Esta norma no está proyectada como un procedimiento para estimar la calidad de lotes o para segregar lotes.Los planes de muestreo diseñados en esta norma son aplicables, pero no se limitan, a la inspección de:a) ítemes o unidades terminadas;b) componentes y materias primas;c) operaciones;d) materiales en proceso;e) suministros en almacenamiento;operaciones de mantención;g) datos o registros;h) procedimientos administrativos.Estos planes están destinados principalmente a ser usados para una serie continua de lotes suficiente para permitir que se apliquen las reglas de cambio que proporcionan:una protección automática al cliente, al detectarse un deterioro de la calidad (mediante un cambio a inspección rigurosa o interrumpiendo la inspección);un incentivo para reducir los costos de inspección (a discreción de la Autoridad Responsable), al alcanzarse una calidad consistentemente buena (mediante un cambio a inspección reducida).Estos planes también pueden usarse para la inspección de lotes aislados pero, en este caso, se recomienda al usuario consultar las curvas características operativas para encontrar un plan que de la protección deseada (ver 12.6). En ese caso, también se remite al usuario a los planes de muestreo indexados por calidad límite (LQ) dados en NCh2238-ISO 2859-2.

Especificaciones de la Norma
Fecha de Publicación 23/12/1998
Título Secundario Sampling procedures for inspection by attributes - Sampling plans indexed by acceptable quality level (AQL) for lot-by-lot inspection
Páginas Técnicas 76
Idioma Español