NCh44:2007

Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Autor: INN
Código ICS: 03.120.30
Vigente
$44.000

Alcance

1.1 Esta norma especifica los planes y procedimientos de muestreo para la inspección por atributos. Está indexada en términos del nivel de calidad aceptable (AQL).Su propósito es estimular al proveedor a través de la presión económica y psicológica de la no aceptación de lotes, para mantener un promedio del proceso como mínimo tan bueno como el AQL especificado. Al mismo tiempo proporciona un límite superior para el riesgo del cliente de aceptar ocasionalmente un lote deficiente.Los planes de muestreo diseñados en esta norma son aplicables, pero no limitados, a la inspección de:ítemes terminados;componentes y materias primas;operaciones;materiales en proceso;productos almacenados;operaciones de mantenimiento;datos o registros; yprocedimientos administrativos.1.2 Estos planes están destinados principalmente a ser usados para una serie continua de lotes, esto es, una serie bastante extensa para permitir que se apliquen las reglas de cambio (ver 9.3). Estas reglas proporcionan:una protección para el cliente (mediante un cambio a inspección rigurosa o interrumpiendo la inspección por muestreo), al detectarse un deterioro de la calidad;un incentivo (a criterio de la autoridad responsable) para reducir los costos de inspección (mediante un cambio a inspección reducida), al alcanzarse una buena calidad de forma estable.Estos planes también se pueden usar para la inspección de lotes aislados pero, en este caso, se recomienda al usuario consultar las curvas características operativas para encontrar un plan que otorgue la protección deseada (ver 12.6). En ese caso, también se remite al usuario a consultar los planes de muestreo indexados por calidad límite (LQ) dados en NCh2238 - ISO 2859-2.

Especificaciones de la Norma
Fecha de Publicación 21/12/2006
Título Secundario Sampling procedures for inspection by attributes - Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection
Páginas Técnicas 96
Idioma Español
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